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目前CT勵(lì)磁特性試驗(yàn)方法主要有工頻法和低頻法兩種。
其中工頻法通過(guò)在CT二次施加工頻電壓,測(cè)試CT二次繞組的電壓-電流關(guān)系(伏安特性),這種方法具有快速、直觀的特點(diǎn),但存在以下缺點(diǎn):
1)所需測(cè)試儀器功率大,笨重;
2)對(duì)于飽和電壓比較高的CT,難以測(cè)試出CT的飽和段。
△ 工頻法測(cè)試原理
低頻法的基本原理
△ CT模型
1)上圖中鐵心由以下3個(gè)參數(shù)建模:
假設(shè)當(dāng)f = 50Hz時(shí),為達(dá)到勵(lì)磁電流Ix,所需施加的電壓Vx = Ix·2πf L = 2000V
若施加不同頻率:
f = 50Hz,Vx = 2000V
f = 5Hz, Vx ≌ 200V
f = 0.5Hz,Vx ≌ 20V
可見(jiàn)需要使CT進(jìn)入相同飽和程度,施加較低頻率信號(hào)所需電壓可以大幅度降低。
從CT的數(shù)學(xué)模型可以看出,要實(shí)現(xiàn)低頻測(cè)試結(jié)果與工頻測(cè)試結(jié)果的一致性,必須保證不同頻率下的鐵心具有相同的磁通。
要將低頻法測(cè)試結(jié)果正確轉(zhuǎn)換為工頻測(cè)試結(jié)果,必須進(jìn)行準(zhǔn)確的頻率歸算。
受勵(lì)磁阻抗非線性的影響,所需電壓并非與頻率呈線性比例關(guān)系,并非隨著頻率等比例降低,需要嚴(yán)格按照互感器的精確數(shù)學(xué)模型進(jìn)行完整的理論計(jì)算。
測(cè)試設(shè)備的輸出電壓低,輸出容量低;
測(cè)試設(shè)備小巧、輕便;
測(cè)試過(guò)程更加安全,不影響CT繞組絕緣。
CT變比試驗(yàn)可分為電流法和電壓法兩類(lèi)。
其中電流法是在一次側(cè)通大電流,直接測(cè)量二次側(cè)電流,計(jì)算變比、比差、角差,這種方法得到的結(jié)果比較準(zhǔn)確、直接,但具有明顯的局限性,設(shè)備笨重、測(cè)試范圍窄等。
電壓法的基本原理
△ CT 模型
1)從CT模型圖可以看出:
通過(guò)在二次加壓的方法,使得勵(lì)磁阻抗上的電壓與某種運(yùn)行狀態(tài)的電壓相同,即可模擬這種運(yùn)行狀態(tài),測(cè)量此勵(lì)磁電流,通過(guò)計(jì)算就能得到電流互感器在所模擬的運(yùn)行狀態(tài)下的變比、比差、角差和復(fù)合誤差。
根據(jù)上述模型得出下述CT等效相量圖
△ CT等效相量圖
測(cè)試設(shè)備輸出電流小,輸出容量低;
可利用低頻法測(cè)試結(jié)果,測(cè)試設(shè)備小巧,輕便;
測(cè)試過(guò)程更加安全;
無(wú)需大電流,測(cè)試范圍寬;
變比試驗(yàn)利用了勵(lì)磁試驗(yàn)結(jié)果,也部分驗(yàn)證了用低頻法進(jìn)行勵(lì)磁試驗(yàn)的正確性。
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